Naga Vishnu Vardhan Mogili

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  • Última atualização do currículo em 21/09/2018


Vishnu Mogili recebeu mestrado e doutorado em Ciência e Engenharia de Materiais da Universidade da Cidade de Dublin (Irlanda) e da Universidade de Limerick (Irlanda) em 2007 e 2012, respectivamente. Sua tese de doutorado, "Análise quantitativa de tensões de rede e polaridade de cristal em nanomateriais semicondutores por difração de elétrons de feixe convergente", sob a supervisão do Dr. David Tanner e Prof. Shohei Nakahara, começou seu interesse em usar TEM para caracterizações de material em nanoescala. Como parte de sua pesquisa pós-doutoral, ele foi afiliado ao projeto FP7 financiado pela UE "SANOWORK" fornecendo as caracterizações TEM. Seguiu-se uma posição de destacamento na DePuy, na Irlanda, num projecto da UE orientado para a indústria "MedCast", antes de assumir o seu actual cargo na LNNano como investigador. Os seus interesses de investigação envolvem a caracterização extensiva de uma variedade de diferentes nanoestruturas através da colaboração com outros investigadores principais no CNPEM e investigadores externos. (Texto informado pelo autor)


Identificação


Nome
Naga Vishnu Vardhan Mogili
Nome em citações bibliográficas
MOGILI, N. V. V.;MOGILI, VISHNU;MOGILI, NAGA VISHNU VARDHAN;N. Vishnu V. Mogili;MOGILI, N. VISHNU V.;Naga V. Mogili;Mogili, Naga V.;MOGILI, N.V.V.;Naga Vishnu Vardhan Mogili;Mogili, Naga Vishnu Vardhan;MOGILI, NAGA VISHNU VARDAN

Endereço


Endereço Profissional
Centro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais.
LNNano
Cidade Universitária
13083970 - Campinas, SP - Brasil
Telefone: (19) 35175086


Formação acadêmica/titulação


2008 - 2012
Doutorado em Materials Science & Engineering.
University of Limerick, UL, Irlanda.
Título: Quantitative analysis of lattice strains and crystal polarity in semiconductor nanomaterials using Convergent Beam Electron Diffraction (CBED), Ano de obtenção: 2012.
Orientador: Dr. David A Tanner and Prof. Shohei Nakahara.
Bolsista do(a): .
2006 - 2007
Mestrado em Master of Engineering in Electronic Systems.
Dublin City University, DCU, Irlanda.
Título: Surface Enhanced Raman Spectroscopy (SERS) for future nanoscale semiconductor devices,Ano de Obtenção: 2007.
Orientador: Dr. Lisa O'reilly.
Coorientador: Prof. Patrick McNally.
2000 - 2005
Graduação em Bachelor of Engineering.
The Oxford College of Engineering, TOCE, Índia.
Título: Resistive loading of Bow-Tie Antenna.
Orientador: Dr. Subhankar Ghose.


Pós-doutorado


2013 - 2014
Pós-Doutorado.
University of Limerick, UL, Irlanda.
Bolsista do(a): European Union Framework Programme 7, FP7, Irlanda.
Grande área: Engenharias


Formação Complementar


2017 - 2017
Quantitative Electron Microscopy 2017. (Carga horária: 63h).
Centre National de la Recherche Scientifique, CNRS, França.
2014 - 2014
Electron Energy Loss Spectroscopy workshop. (Carga horária: 21h).
Centro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais, CNPEM, Brasil.
2014 - 2014
Minitab software. (Carga horária: 20h).
Minitab Ltd., MINITAB LTD, Inglaterra.
2014 - 2014
V Advanced Course on Transmission Electron Microscopy. (Carga horária: 72h).
Laboratório Nacional de Luz Síncrotron, LME, Brasil.
2009 - 2009
RMS Summer school of Electron Microscopy. (Carga horária: 50h).
University of Leeds, LEEDS, Inglaterra.
2008 - 2008
Continuum Mechanics. (Carga horária: 30h).
University of Limerick, UL, Irlanda.


Atuação Profissional



Centro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais, CNPEM, Brasil.
Vínculo institucional

2014 - Atual
Vínculo: Servidor Público, Enquadramento Funcional: Researcher, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.


DePuy, Ireland, DEPUY, Irlanda.
Vínculo institucional

2013 - 2014
Vínculo: Professor Visitante, Enquadramento Funcional: Postdoctoral researcher, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.
Outras informações
Working closely with Quality control and Research & Development departments, implementing data automation environment in foundry

Atividades

09/2013 - 07/2014
Pesquisa e desenvolvimento , DePuy, Ireland, .


University of Limerick, UL, Irlanda.
Vínculo institucional

2008 - 2012
Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Research assistant, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.
Outras informações
Studying lattice strain variations in semiconductor devices and determining absolute orientation of polar semiconductor nanomaterials using high spatial resolution CBED technique

Atividades

09/2008 - 12/2012
Pesquisa e desenvolvimento , University of Limerick, .


Dublin City University, DCU, Irlanda.
Vínculo institucional

2007 - 2007
Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Research assistant, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.
Outras informações
Enhance the magnitude of the Raman signal by depositing nanometre sized metal islands over the substrate surface and observe the amplification of Si-Si vibrational peak from strained silicon samples

Atividades

02/2007 - 08/2007
Pesquisa e desenvolvimento , Dublin City University, .


Electronics & Radar Development Establishment, LRDE, Índia.
Vínculo institucional

2004 - 2004
Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Research assistant, Carga horária: 40, Regime: Dedicação exclusiva.
Outras informações
Exploration of special techniques for resistive loading of a Biconical form antenna called Bow-Tie and Balun preparation

Atividades

02/2004 - 12/2004
Pesquisa e desenvolvimento , Electronics & Radar Development Establishment, .



Linhas de pesquisa


1.
Lattice strains, Semiconductor material characterization, Electron Diffraction, CBED
2.
Raman Spectroscopy, SERS, Physical Vapor Deposition, Atomic Force Microscopy
3.
Bow-Tie antenna and Balun preparation, resistive loading
4.
Biomaterials, Quality control, Data automation


Membro de comitê de assessoramento


2010 - 2011
Agência de fomento: Materials & Surface Science Institute


Áreas de atuação


1.
Grande área: Engenharias / Área: Engenharia de Materiais e Metalúrgica.
2.
Grande área: Engenharias / Área: Engenharia de Materiais e Metalúrgica / Subárea: Transmission Electron Microscopy.
3.
Grande área: Engenharias / Área: Engenharia de Materiais e Metalúrgica / Subárea: Materials and Components Semiconductors.
4.
Grande área: Outros / Área: Microeletrônica / Subárea: Nano Electronics.
5.
Grande área: Engenharias / Área: Engenharia Elétrica / Subárea: Electronics & Communications Engineering.


Idiomas


Inglês
Compreende Bem, Fala Bem, Lê Bem, Escreve Bem.
Telugo
Compreende Bem, Fala Bem, Lê Bem, Escreve Bem.
Hindi
Compreende Bem, Fala Bem, Lê Bem, Escreve Bem.


Produções



Produção bibliográfica
Artigos completos publicados em periódicos

1.
MILAGRE, MARIANA X.2018MILAGRE, MARIANA X. ; Mogili, Naga V. ; DONATUS, UYIME ; GIORJÃO, RAFAEL A.R. ; TERADA, MAYSA ; ARAUJO, JOÃO VICTOR S. ; MACHADO, CARULINE S.C. ; COSTA, ISOLDA . On the microstructure characterization of the AA2098-T351 alloy welded by FSW. MATERIALS CHARACTERIZATION, v. 140, p. 233-246, 2018.

2.
COSTA, A.M.S.2018COSTA, A.M.S. ; OLIVEIRA, J.P. ; SALGADO, M.V. ; NUNES, C.A. ; LOPES, E.S.N. ; MOGILI, N.V.V. ; RAMIREZ, A.J. ; TSCHIPTSCHIN, A.P. . Effect of Ta and Nb additions in arc-melted Co-Ni-based superalloys: microstructural and mechanical properties. MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A-STRUCTURAL MATERIALS PROPERTIES MICROSTRUCTURE AND PROCESSING, v. 730, p. 66-72, 2018.

3.
DONATUS, UYIME2018DONATUS, UYIME ; FERREIRA, RAPHAEL OLIVEIRA ; MOGILI, NAGA VISHNU VARDAN ; VIVEIROS, BARBARA VICTORIA GONÇALVES DE ; MILAGRE, MARIANA XAVIER ; COSTA, ISOLDA . Corrosion and anodizing behaviour of friction stir weldment of AA2198-T851 Al-Cu-Li alloy. MATERIALS CHEMISTRY AND PHYSICS, v. 219, p. 493-511, 2018.

4.
ERMAKOV, VIKTOR A.2018ERMAKOV, VIKTOR A. ; SILVA FILHO, JOSÉ MARIA CLEMENTE DA ; BONATO, LUIZ GUSTAVO ; MOGILI, NAGA VISHNU VARDHAN ; MONTORO, FABIANO EMMANUEL ; IIKAWA, FERNANDO ; NOGUEIRA, ANA FLAVIA ; CESAR, CARLOS LENZ ; JIMÉNEZ-VILLAR, ERNESTO ; MARQUES, FRANCISCO CHAGAS . Three-Dimensional Superlattice of PbS Quantum Dots in Flakes. ACS Omega, v. 3, p. 2027-2032, 2018.

5.
GLYNN, COLM2017GLYNN, COLM ; JONES, KIM-MARIE ; MOGILI, VISHNU ; MCSWEENEY, WILLIAM ; O'DWYER, COLM . The Nature of Silicon Nanowire Roughness and Thermal Conductivity Suppression by Phonon Scattering Mechanisms. ECS Journal of Solid State Science and Technology, v. 6, p. N3029-N3035, 2017.

6.
ERMAKOV, VICTOR A.2017ERMAKOV, VICTOR A. ; JIMÉNEZ-VILLAR, ERNESTO ; SILVA FILHO, JOSÉ MARIA CLEMENTE DA ; YASSITEPE, EMRE ; MOGILI, NAGA VISHNU VARDHAN ; IIKAWA, FERNANDO ; DE SÁ, GILBERTO FERNANDES ; CESAR, CARLOS LENZ ; MARQUES, FRANCISCO C. . Size Control of Silver-Core/Silica-Shell Nanoparticles Fabricated by Laser Ablation Assisted Chemical Reduction. Langmuir, v. 33, p. 2257-2262, 2017.

7.
CARROLL, ELAINE2017CARROLL, ELAINE ; BUCKLEY, DARRAGH ; MOGILI, N. VISHNU V. ; MCNULTY, DAVID ; MORENO, M. SERGIO ; GLYNN, COLM ; COLLINS, GILLIAN ; HOLMES, JUSTIN D. ; RAZEEB, KAFIL M. ; O?DWYER, COLM . 2D Nanosheet Paint from Solvent-Exfoliated Bi Te Ink. CHEMISTRY OF MATERIALS, v. 29, p. 7390-7400, 2017.

8.
MOGILI, N. V. V.;MOGILI, VISHNU;MOGILI, NAGA VISHNU VARDHAN;N. Vishnu V. Mogili;MOGILI, N. VISHNU V.;Naga V. Mogili;Mogili, Naga V.;MOGILI, N.V.V.;Naga Vishnu Vardhan Mogili;Mogili, Naga Vishnu Vardhan;MOGILI, NAGA VISHNU VARDAN2016 MOGILI, N. V. V.; NAKAHARA, S. . An Analysis of Germanium-Silicon/Silicon Strained Superlattice Structure Using Convergent Beam Electron Diffraction. Strain (Oxford), v. 52, p. 162-171, 2016.

9.
HUANG, SUSAN R.2014HUANG, SUSAN R. ; LU, XUESONG ; BARNETT, ALLEN ; OPILA, ROBERT L. ; MOGILI, VISHNU ; TANNER, DAVID A. ; NAKAHARA, SHOHEI . Characterization of the Microstructure of GaP Films Grown on {111} Si by Liquid Phase Epitaxy. ACS Applied Materials & Interfaces (Print), v. 6, p. 18626-18634, 2014.

10.
MCSWEENEY, W.2013MCSWEENEY, W. ; LOTTY, O. ; MOGILI, N. V. V. ; GLYNN, C. ; GEANEY, H. ; TANNER, D. ; HOLMES, J. D. ; O'DWYER, C. . Doping controlled roughness and defined mesoporosity in chemically etched silicon nanowires with tunable conductivity. Journal of Applied Physics, v. 114, p. 034309, 2013.

11.
CHADWICK, EDWARD G.2013CHADWICK, EDWARD G. ; MOGILI, N. V. V. ; O'DWYER, COLM ; MOORE, JIMMY D. ; FLETCHER, JOHN S. ; LAFFIR, FATHIMA ; ARMSTRONG, GORDON ; TANNER, DAVID A. . Compositional characterisation of metallurgical grade silicon and porous silicon nanosponge particles. RSC Advances: an international journal to further the chemical sciences, v. 3, p. 19393, 2013.

Trabalhos completos publicados em anais de congressos
1.
MOGILI, N. V. V.; TANNER, D. A. . CBED & FE study of strain relaxation in crosssectional Si, Si0.81Ge0.19 Strained Layer Superlattice structure. In: 21st International Workshop on Computational Mechanics of Materials, 2011, Limerick. 21st International Workshop on Computational Mechanics of Materials, 2011. p. 155.

2.
MOGILI, N. V. V.; TANNER, D. A. . Interfacial Strain analysis of Si, SiGe StrainedLayer Superlattice (SLS) structure using Convergent Beam Electron Diffraction. In: International Conference on Electron Nanoscopy, 2011, Hyderabad. International Conference on Electron Nanoscopy, 2011. p. 90.

Artigos aceitos para publicação
1.
ANTUNES, A. ; BARBOZA, M. ; CARVALHO, A. L. ; MOGILI, N. V. V. ; BAPTISTA, C. A. . Effect of heat treatment on the microstructure and hardening response of AA6351 and AA7050 alloys. Materials Research (São Carlos. Impresso), 2017.

2.
CARROLL, E. ; BUCKLEY, D. ; MCNULTY, D. ; MOGILI, N. V. V. ; MORENO, S. ; GLYNN, C. ; COLLINS, G. ; HOLMES, J. D. ; RAZEEB, K. M. ; O'DWYER, COLM . Solution Processing and Structural Control of 2D Materials of Bi2Te3, MoS2 and V2O5 and Their Applications. ECS Transactions (Online), 2017.

Apresentações de Trabalho
1.
MOGILI, N. V. V.. Nanoscale strain measurements in semiconductor superlattices using STEM-CBED technique. 2015. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

2.
MOGILI, N. V. V.. Convergent Beam Electron Diffraction: Application to semiconductor nanomaterials. 2014. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

3.
MOGILI, N. V. V.; CHADWICK, EDWARD G. ; TANNER, D. A. . Study of Porous silicon morphology using Convergent Beam Electron Diffraction. 2011. (Apresentação de Trabalho/Simpósio).

4.
MOGILI, N. V. V.; TANNER, D. A. . CBED & FE study of strain relaxation in crosssectional Si, Si0.81Ge0.19 Strained Layer Superlattice structure. 2011. (Apresentação de Trabalho/Conferência ou palestra).

5.
MOGILI, N. V. V.; TANNER, D. A. . Interfacial Strain analysis of Si, SiGe StrainedLayer Superlattice (SLS) structure using Convergent Beam Electron Diffraction. 2011. (Apresentação de Trabalho/Conferência ou palestra).

6.
MOGILI, N. V. V.; TANNER, D. A. ; NAKAHARA, S. . Interfacial strain analysis of Si, SiGe Superlattice Structure using Convergent Beam Electron Diffraction. 2011. (Apresentação de Trabalho/Conferência ou palestra).

7.
MOGILI, N. V. V.; TANNER, D. A. ; NAKAHARA, S. . Interfacial Strain analysis of Si, SiGe Superlattice structure using Convergent Beam Electron Diffraction. 2011. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

8.
MOGILI, N. V. V.; TANNER, D. A. . Strain determination using Convergent Beam Electron Diffraction. 2009. (Apresentação de Trabalho/Simpósio).


Demais tipos de produção técnica
1.
OSPINA, C. A. ; BETTINI, J. ; MOGILI, N. V. V. ; TEIXEIRA NETO, E. . Transmission Electron Microscopy course. 2016. (Desenvolvimento de material didático ou instrucional - Transmission Electron Microscopy Summer school).



Eventos



Participação em eventos, congressos, exposições e feiras
1.
XXV - Congresso da Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanálise. Nanoscale strain measurements in semiconductor superlattices using STEM-CBED technique. 2015. (Congresso).

2.
ⅷ Congresso de Microscopia dos Materiais - Micromat. Convergent Beam Electron Diffraction: Application to semiconductor nanomaterials. 2014. (Congresso).

3.
21st International Workshop on Computational Mechanics of Materials. CBED & FE study of strain relaxation in cross-sectional Si, Si0.81Ge0.19 Strained Layer Superlattice structure. 2011. (Congresso).

4.
35th Microscopy Society of Ireland Symposium.Study of Porous silicon morphology using Convergent Beam Electron Diffraction. 2011. (Simpósio).

5.
International Conference on Electron Nanoscopy (EM50).Interfacial Strain analysis of Si, SiGe Strained-Layer Superlattice (SLS) structure using Convergent Beam Electron Diffraction. 2011. (Seminário).

6.
Nano-week Conference (Nanotechnology: Research Excellence & Commercial opportunities). Interfacial strain analysis of Si, SiGe Superlattice Structure using Convergent Beam Electron Diffraction. 2011. (Congresso).

7.
NUI Galway ? UL Alliance Annual Engineering & Informatics Research Day. Interfacial Strain analysis of Si, SiGe Superlattice structure using Convergent Beam Electron Diffraction. 2011. (Congresso).

8.
33rd Microscopy Society of Ireland.Strain determination using Convergent Beam Electron Diffraction. 2009. (Simpósio).


Organização de eventos, congressos, exposições e feiras
1.
TEIXEIRA NETO, E. ; BETTINI, J. ; MOGILI, N. V. V. ; OSPINA, C. A. . 7th Transmission Electron Microscopy Summer school. 2018. (Outro).

2.
OSPINA, C. A. ; BETTINI, J. ; MOGILI, N. V. V. ; TEIXEIRA NETO, E. . 6th Transmission Electron Microscopy Summer School. 2016. (Outro).



Educação e Popularização de C & T



Desenvolvimento de material didático ou instrucional
1.
OSPINA, C. A. ; BETTINI, J. ; MOGILI, N. V. V. ; TEIXEIRA NETO, E. . Transmission Electron Microscopy course. 2016. (Desenvolvimento de material didático ou instrucional - Transmission Electron Microscopy Summer school).




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