Maurício de Albuquerque Sortica

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  • Última atualização do currículo em 08/09/2017


Possui Bacharelado Em Física pela Universidade Federal do Rio Grande do Sul (2006), mestrado em Física pela Universidade Federal do Rio Grande do Sul (2009) e doutorado em Física pela Universidade Federal do Rio Grande do Sul (2013). Tem experiência na área de Física, com ênfase em caracterização de materiais por feixes iônicos, atuando principalmente nos seguintes temas: Análise de materiais por feixes iônicos, MEIS, RBS, nanomateriais e simulação computacional de espectros. (Texto informado pelo autor)


Identificação


Nome
Maurício de Albuquerque Sortica
Nome em citações bibliográficas
Sortica, M. A.;SORTICA, M. A.;SORTICA, MAURICIO A.


Formação acadêmica/titulação


2009 - 2013
Doutorado em Física.
Universidade Federal do Rio Grande do Sul, UFRGS, Brasil.
Título: Análise de Nanocristais Compostos via Espalhamento de Íons de Alta Resolução, Ano de obtenção: 2013.
Orientador: Pedro Luis Grande.
Coorientador: Claudio Radtke.
Bolsista do(a): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico, CNPq, Brasil.
Palavras-chave: MEIS; nanocristais; Nanotecnologia; quantum dots; perfilometria.
Grande área: Ciências Exatas e da Terra
Grande Área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Nanotecnologia.
Setores de atividade: Pesquisa e desenvolvimento científico.
2007 - 2009
Mestrado em Física.
Universidade Federal do Rio Grande do Sul, UFRGS, Brasil.
Título: Caracterização de Nanoestruturas Através da Técnica MEIS,Ano de Obtenção: 2009.
Orientador: Pedro Luis Grande.
Bolsista do(a): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico, CNPq, Brasil.
Palavras-chave: MEIS; nanopartículas; caracterização.
Grande área: Ciências Exatas e da Terra
2000 - 2006
Graduação em Bacharelado Em Física.
Universidade Federal do Rio Grande do Sul, UFRGS, Brasil.
Orientador: Pedro Luis Grande.
Bolsista do(a): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico, CNPq, Brasil.


Pós-doutorado


2014 - 2015
Pós-Doutorado.
Institut National des Sciences Appliquées de Lyon, INSA LYON, França.
Bolsista do(a): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico, CNPq, Brasil.
Grande área: Ciências Exatas e da Terra
Grande Área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Física da Matéria Condensada / Especialidade: Prop. Óticas e Espectrosc. da Mat. Condens; Outras Inter. da Mat. com Rad. e Part..
2014 - 2014
Pós-Doutorado.
Universidade Federal do Rio Grande do Sul, UFRGS, Brasil.
Bolsista do(a): Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior, CAPES, Brasil.
Grande área: Ciências Exatas e da Terra
Grande Área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Física Atômica e Molecular / Especialidade: Processos de Colisão e Interações de Átomos e Moléculas.
2013 - 2014
Pós-Doutorado.
Institut National des Sciences Appliquées de Lyon, INSA LYON, França.
Bolsista do(a): Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior, CAPES, Brasil.
Grande área: Ciências Exatas e da Terra
Grande Área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Física da Matéria Condensada / Especialidade: Prop. Óticas e Espectrosc. da Mat. Condens; Outras Inter. da Mat. com Rad. e Part..


Formação Complementar


1990 - 1993
Técnico em Eletrônica. (Carga horária: 4452h).
Escola Técnica Parbé, ETP, Brasil.


Atuação Profissional



Universidade Federal do Rio Grande do Sul, UFRGS, Brasil.
Vínculo institucional

2015 - 2016
Vínculo: Sem vínculo, Enquadramento Funcional: Pesquisador visitante, Carga horária: 28

Vínculo institucional

2014 - 2014
Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Pós-doutorado, Carga horária: 30, Regime: Dedicação exclusiva.

Vínculo institucional

2009 - 2013
Vínculo: Estudante de pós-graduação, Enquadramento Funcional: Estudante de doutorado, Regime: Dedicação exclusiva.
Outras informações
Aluno de doutorado em física junto ao Laboratório de Implantação Iônica, no IF-UFRGS

Vínculo institucional

2007 - 2009
Vínculo: Estudante de pós-graduação, Enquadramento Funcional: Estudante de mestrado, Regime: Dedicação exclusiva.
Outras informações
Aluno de Mestrado em Física junto ao Laboratório de Implantação Iônica, no IF-UFRGS


Institut National des Sciences Appliquées de Lyon, INSA LYON, França.
Vínculo institucional

2014 - 2015
Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Pós-doutorado, Carga horária: 30, Regime: Dedicação exclusiva.

Vínculo institucional

2013 - 2014
Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Pós-doutorado, Carga horária: 30, Regime: Dedicação exclusiva.


Uppsala University, UPPSALA, Suécia.
Vínculo institucional

2016 - Atual
Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Pós doutorando, Carga horária: 49, Regime: Dedicação exclusiva.



Projetos de pesquisa


2014 - 2014
Correlacionando propriedades eletrônicas e estruturais de nanopartículas com a reatividade de catalisadores
Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa.
Alunos envolvidos: Graduação: (0) / Especialização: (1) / Mestrado acadêmico: (0) / Mestrado profissional: (0) / Doutorado: (1) .
Integrantes: Maurício de Albuquerque Sortica - Integrante / Pedro Luis Grande - Integrante / Jonder Morais - Coordenador / Vagner Zeizer Carvalho Paes - Integrante.
2012 - 2015
Caixas Quânticas por Implantação

Projeto certificado pelo(a) coordenador(a) Johnny Ferraz Dias em 28/04/2013.
Descrição: Estudo das possíveis condições de implantação e recozimento que permitam obter uma distribuição controlada de nanopartículas de InAs em matriz de silício para verificar o potencial optoeletrônico das nanopartículas obtidas a fim de utilizar esas estruturas como dispositivos de emissão de luz..
Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa.
Alunos envolvidos: Graduação: (0) / Especialização: (2) / Mestrado acadêmico: (0) / Mestrado profissional: (0) / Doutorado: (0) .
Integrantes: Maurício de Albuquerque Sortica - Integrante / Johnny Ferraz Dias - Coordenador / Pedro Luis Grande - Integrante / Bruno Canut - Integrante / Carla Eliete Iochims dos Santos - Integrante.
2009 - 2014
Análise de Nanocristais Compostos via Espalhamento de Íons de Alta Resolução
Descrição: Caracterização das características core-shell de nanopartículas CdSe/ZnS através da técnica MEIS.
Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa.
Alunos envolvidos: Graduação: (1) / Especialização: (1) / Mestrado acadêmico: (0) / Mestrado profissional: (0) / Doutorado: (0) .
Integrantes: Maurício de Albuquerque Sortica - Coordenador / Johnny Ferraz Dias - Integrante / Pedro Luis Grande - Integrante / Radtke, C. - Integrante / Lais Gomes de Almeida - Integrante / Agenor Hentz - Integrante.
2007 - 2009
Melhoramentos da Técnica MEIS para a Caracterização de Nanoestruturas
Descrição: Desenvolvimento de uma metodologia para análise de espectros de MEIS voltada à caracterização de nanoestruturas. Para tanto foi desenvolvida uma ferramenta para simulação e ajuste de espectros de MEIS..
Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa.
Alunos envolvidos: Mestrado acadêmico: (1) Doutorado: (1) .
Integrantes: Maurício de Albuquerque Sortica - Coordenador / Pedro Luis Grande - Integrante.Financiador(es): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico - Bolsa.
Número de produções C, T & A: 2
2004 - 2014
Análise de materiais por feixes iônicos: RBS, PIXE e Micro-PIXE
Descrição: Em linhas gerais, o principal objetivo do presente projeto é utilizar as técnicas PIXE e RBS na caracterização de diversos materiais. Também será utilizada a técnica de Micro-feixe que, recentemente, entrou em operação no Laboratório de Implantação Iônica do IF-UFRGS. Tanto a técnica PIXE (Particle-Induced X-ray Emission) quanto a técnica RBS (Rutherford Backscattering Spectrometry) permitem obter a composição elementar, e suas respectivas concentrações, dos materiais em estudo. Com a nova técnica de micro-PIXE, é possível, também, obter-se informações morfológicas dos materiais em estudo. Basicamente, todas essas técnicas utilizam um feixe de íons que, ao penetrar no material em questão, pode induzir a produção de um raio-X característico (PIXE) por um determinado elemento e/ou pode ser retro-espalhado por esse mesmo elemento (RBS). Enquanto que o RBS é adequado para estudos de elementos leves como o carbono, oxigênio e nitrogênio, a técnica PIXE é amplamente utilizada para estudos de elementos mais pesados, a partir do sódio (incluindo metais pesados). Em particular, a técnica PIXE possui uma sensibilidade que chega à ordem de partes por milhão (ppm). Ambas as técnicas permitem analisar qualquer tipo de material na forma sólida. Finalmente, com a técnica de Micro-PIXE podemos obter mapas elementares, localizando com precisão micrométrica os diversos elementos constituintes da amostra..
Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa.
Alunos envolvidos: Graduação: (4) / Especialização: (4) / Mestrado acadêmico: (3) / Mestrado profissional: (0) / Doutorado: (8) .
Integrantes: Maurício de Albuquerque Sortica - Coordenador / Johnny Ferraz Dias - Integrante / Rafaela Debastiani - Integrante / Lívio Amaral - Integrante.
2004 - 2006
Freamento de Íons em Alvos Cristalinos
Descrição: Estudo do freamento de íons na matéria cristalina, pela comparação entre espectros experimentais e simulados de Medium Energy Ion Scattering (MEIS). Para essa finalidade, desenvolvemos um software para simulação e ajuste de espectros de MEIS/RBS (SimulMeis)..
Situação: Concluído; Natureza: Pesquisa.
Alunos envolvidos: Graduação: (2) / Mestrado acadêmico: (2) .
Integrantes: Maurício de Albuquerque Sortica - Integrante / Lúcia Duclós Schünemann - Integrante / Samir de Moraes Shubeita - Integrante / Deise Schafer - Integrante / Pedro Luis Grande - Coordenador.Financiador(es): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico - Bolsa.
Número de produções C, T & A: 1


Áreas de atuação


1.
Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física.
2.
Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Física Atômica e Molecular/Especialidade: Processos de Colisão e Interações de Átomos e Moléculas.
3.
Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Física / Subárea: Nanotecnologia.


Idiomas


Inglês
Compreende Bem, Fala Bem, Lê Bem, Escreve Bem.
Francês
Compreende Bem, Fala Razoavelmente, Lê Bem, Escreve Pouco.


Produções



Produção bibliográfica
Artigos completos publicados em periódicos

1.
2Sortica, M. A.2017 Sortica, M. A.; Paneta, V. ; Bruckner, B. ; Lohman, S. ; Hans, M. ; Nyberg, T. ; Bauer, P. ; PRIMETZHOFER, D. . Electronic energy-loss mechanisms for H, He, and Ne in TiN. PHYSICAL REVIEW A, v. 96, p. 032703, 2017.

2.
4SORTICA, MAURICIO A.2015SORTICA, MAURICIO A.; CANUT, BRUNO ; HATORI, MASAHIRO ; DIAS, JOHNNY F. ; CHAUVIN, NICOLAS ; MARTY, OLIVIER . Optical and structural properties of InAs nanoclusters in crystalline Si obtained through sequential ion implantation and RTA. Physica Status Solidi. A, Applications and Materials Science (Print), v. 212, p. n/a-n/a, 2015.

3.
5JUNG, KANG-WON2014JUNG, KANG-WON ; YU, HYUNUNG ; MIN, WON JA ; YU, KYU-SANG ; Sortica, M. A. ; Grande, Pedro L. ; MOON, DAEWON . Quantitative Compositional Profiling of Conjugated Quantum Dots with Single Atomic Layer Depth Resolution via Time-of-Flight Medium-Energy Ion Scattering Spectroscopy. Analytical Chemistry (Washington), v. 86, p. 1091-1097, 2014.

4.
1Sortica, M. A.;SORTICA, M. A.;SORTICA, MAURICIO A.2012 Sortica, M. A.; Grande, P. L. ; Radtke, C. ; Almeida, L. G. ; Debastiani, R. ; Dias, J. F. ; Hentz, A. . Structural Characterization of CdSe/ZnS quantum dots using medium energy ion scattering. Applied Physics Letters, v. 101, p. 023110-1-023110-4, 2012.

5.
6Machado, G.2011Machado, G. ; Feil, A. F. ; Migowski, P. ; Rossi, Liane ; Giovanela, Marcelo ; Crespo, Janaina da S. ; Miotti, L. ; Sortica, M. A. ; Grande, P. L. ; Pereira, M. B. ; Correia, Ricardo R. B. . Structural control of gold nanoparticles self-assemblies by layer-by-layer process. Nanoscale (Print), v. 3, p. 1717-1723, 2011.

6.
8Sanchez, D.F.2011Sanchez, D.F. ; Luce, F.P. ; Fabrim, Z.E. ; Sortica, M. A. ; Fichtner, P.F.P. ; Grande, P.L. . Structural characterization of Pb nanoislands in SiO2/Si interface synthesized by ion implantation through MEIS analysis. Surface Science, v. 605, p. 654-658, 2011.

7.
3Sortica, M. A.;SORTICA, M. A.;SORTICA, MAURICIO A.2009 Sortica, M. A.; Grande, P. L. ; Machado, G. ; Miotti, L. . Characterization of nanoparticles through medium-energy ion scattering. Journal of Applied Physics, v. 106, p. 114320, 2009.

8.
9Lopes, J. M. J.2009Lopes, J. M. J. ; Littmark, U. ; Roeckerath, M. ; Durǧ ; Lenk, S. ; Breuer, U. ; Besmehn, A. ; Stärk, A. ; Grande, P. L. ; Sortica, M. A. ; Radtke, C. ; Schubert, J. ; Mantl, S. . Isotopic labeling study of oxygen diffusion in amorphous LaScO3 high-? films on Si(100) and its effects on the electrical characteristics. Applied Physics. A, Materials Science & Processing (Print), v. 96, p. 447-451, 2009.

9.
7Shubeita, S. M.2008Shubeita, S. M. ; Sortica, M. A. ; Grande, P. L. ; Dias, J. F. . Signature of plasmon excitations in the stopping ratio of fast hydrogen clusters. Physical Review. B, Condensed Matter and Materials Physics, v. 77, p. 115327, 2008.

Capítulos de livros publicados
1.
Sortica, M. A.; Sanchez, D.F. ; Grande, P. L. . Caracterização de nanomateriais por feixe de ion. In: Fernando Lázaro Freire Junior. (Org.). Engenharia de Superfícies. 1ed.Rio de Janeiro: Epistemia Comunicação, 2012, v. , p. 65-67.

Artigos aceitos para publicação
1.
Lohman, S. ; Sortica, M. A. ; Paneta, V. ; PRIMETZHOFER, D. . Analysis of photon emission induced by light and heavy ions in time-of-flight medium energy ion scattering. NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2017.

Apresentações de Trabalho
1.
Sortica, M. A.; Grande, P.L. ; RADTKE, C. ; Almeida, L. G. ; Debastiani, R. ; Dias, J. F. ; Hentz, A. . Structural characterization of CdSe/ZnS quantum dots using Medium Energy Ion Scattering. 2016. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

2.
Sortica, M. A.; CANUT, B. ; HATORI, M. ; Dias, J. F. ; CHAUVIN, N. ; MARTY, O. . Study of InAs quantum dots in silicon obtained through ion implantation and RTA. 2015. (Apresentação de Trabalho/Conferência ou palestra).

3.
Sortica, M. A.; CANUT, B. ; HATORI, M. ; GRANDE, PEDRO L. ; DIAS, J. F. ; CHAUVIN, N. ; MARTY, O. . Study of InAs quantum dots in silicon obtained through ion implantation. 2014. (Apresentação de Trabalho/Conferência ou palestra).

4.
Sortica, M. A.; Grande, P. L. ; RADTKE, C. ; Almeida, L. G. ; Debastiani, R. ; Dias, J. F. ; Hentz, A. . Structural characterization of CdSe/ZnS quantum dots using PIXE, RBS and MEIS. 2013. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

5.
Sortica, M. A.; Grande, P.L. ; Radtke, C. ; Almeida, L. G. ; Debastiani, R. ; Dias, J. F. ; Hentz, A. . Structural characterization of CdSe/ZnS quantum dots using PIXE, RBS and MEIS. 2013. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

6.
Sortica, M. A.; CANUT, B. ; Dias, J. F. ; CHAUVIN, N. ; Grande, P. L. ; MARTY, O. . InAs quantum dots in silicon by ion implantation. 2013. (Apresentação de Trabalho/Conferência ou palestra).

7.
Sortica, M. A.; GRANDE, P. L. ; Radtke, C. ; Almeida, L. G. ; Debastiani, R. ; Dias, J. F. ; Hentz, A. . Structural characterization of CdSe/ZnS quantum dots using Medium Energy Ion Scattering. 2012. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

8.
Sortica, M. A.; Marmitt, G. G. ; Sanchez, D.F. ; GRANDE, P. L. . Simulação de espectros de MEIS para estudo de materiais nanoestruturados. 2012. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

9.
Sortica, M. A.; Almeida, L. G. ; GRANDE, P. L. ; Radtke, C. ; Debastiani, R. ; DIAS, J. F. ; Hentz, A. . Caracterização estrutural de quantum dots CdSe/ZnS por espalhamento de íons de energia média. 2012. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

10.
Sortica, M. A.; Grande, P. L. ; Radtke, C. . Nanostructures characterization using the MEIS technique. 2011. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

11.
Sortica, M. A.; Grande, P. L. ; Radtke, C. . Nanostructures characterization using the MEIS technique. 2011. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

12.
Sortica, M. A.; Grande, P. L. ; Radtke, C. . Nanostructures characterization using the MEIS technique. 2010. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

13.
Sortica, M. A.; Grande, P. L. ; Radtke, C. ; Machado, G. . Caracterização de nanoestruturas usando a técnica MEIS. 2010. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

14.
Sortica, M. A.; Grande, P. L. ; Machado, G. ; Miotti, L. . Nanostructures characterization using the MEIS technique. 2009. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

15.
Sortica, M. A.; Grande, P. L. ; Miotti, L. ; Menegotto, T. ; Machado, G. . Análise de Nano Estruturas Através da Técnica MEIS. 2008. (Apresentação de Trabalho/Seminário).

16.
Sortica, M. A.; Grande, P. L. . Análise de Nanoestruturas Através da Técnica MEIS. 2008. (Apresentação de Trabalho/Conferência ou palestra).

17.
Sortica, M. A.; Grande, P. L. . Caracterização de Nanoestruturas Através da Técnica MEIS. 2008. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

18.
Sortica, M. A.. SimulMeis - Software Para Simulação e Ajuste de Espectros de MEIS/RBS. 2006. (Apresentação de Trabalho/Congresso).

19.
Sortica, M. A.; Grande, P. L. ; Shubeita, S. M. ; Schünemann, L. D. . Freamento de Íons em Alvos Cristalinos. 2005. (Apresentação de Trabalho/Outra).

Outras produções bibliográficas
1.
Sortica, M. A.; Grande, P. L. . Caracterizaão de Nanoestruturas Através da Técnica MEIS 2009 (Dissertação de Mestrado).



Eventos



Participação em eventos, congressos, exposições e feiras
1.
International Workshop on High Resolution Depth Profiling 8 - HRDP8. Structural characterization of CdSe/ZnS quantum dots using Medium Energy Ion Scattering. 2016. (Congresso).

2.
European Material Research Society Spring Meeting. Study of InAs quantum dots in silicon obtained through ion implantation and RTA. 2015. (Congresso).

3.
European Material Research Society Spring Meeting. Study of InAs quantum dots in silicon obtained through ion implantation. 2014. (Congresso).

4.
11th European Conference on Accelerators in Applied Research and Technology. Structural characterization of CdSe/ZnS quantum dots using PIXE, RBS and MEIS. 2013. (Congresso).

5.
13th International Conference on Particle-Induced X-Ray Emission. Structural characterization of CdSe/ZnS quantum dots using PIXE, RBS and MEIS. 2013. (Congresso).

6.
6th Mediterranean Conference on Nano-Photonics. InAs quantum dots in silicon by ion implantation. 2013. (Congresso).

7.
25th International Conference on Atomic Collisions in Solids. Structural characterization of CdSe/ZnS quantum dots using Medium Energy Ion Scattering. 2012. (Congresso).

8.
8th International Symposium on Swift Heavy Ions in Matter. 2012. (Congresso).

9.
VI Encuentro Sudamericano de Colisiones Inelásticas en la Materia. Simulação de espectros de MEIS para estudo de materiais nanoestruturados. 2012. (Congresso).

10.
20th International Conference on Ion Beam Analysis. Nanostructures characterization using the MEIS technique. 2011. (Congresso).

11.
High Resolution Depth Profiling 6. Nanostructures characterization using the MEIS technique. 2011. (Congresso).

12.
10th European Conference on Accelerators in Applied Research and Technology. Nanostructures characterization using the MEIS technique. 2010. (Congresso).

13.
V Encuentro Sud-Americano de Colisiones Inelásticas en la Materia. Caracterização de nanoestruturas usando a técnica MEIS. 2010. (Congresso).

14.
19th International Conference on Ion Beam Analysis. Characterization of nanoparticles through medium-energy ion scattering (MEIS). 2009. (Congresso).

15.
II Mostra CNANO.Análise de Nanoestruturas Através da Técnica MEIS. 2008. (Encontro).

16.
IV Encontro Sul-Americano de Colisões Atômicas na Matéria. Caracterização de Nanoestruturas Através da Técnica MEIS. 2008. (Congresso).

17.
VII Mostra PG.Análise de Nanoestruturas Através da Técnica MEIS. 2008. (Seminário).

18.
III Encuentro Sudamericano de Colisiones Inelásticas en la Materia. SimulMeis - Software Para Simulação e Ajuste de Espectros de MEIS/RBS. 2006. (Congresso).

19.
New Trends in Ion Beam Research. 2005. (Congresso).

20.
XVII Salão de iniciação Científica.Freamento de Íons em Alvos Cristalinos. 2005. (Encontro).



Educação e Popularização de C & T



Livros e capítulos
1.
Sortica, M. A.; Sanchez, D.F. ; Grande, P. L. . Caracterização de nanomateriais por feixe de ion. In: Fernando Lázaro Freire Junior. (Org.). Engenharia de Superfícies. 1ed.Rio de Janeiro: Epistemia Comunicação, 2012, v. , p. 65-67.




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