Bruno Santos de Oliveira

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  • Última atualização do currículo em 14/12/2018


Possui graduação em Nanotecnologia pela Universidade Federal do Rio de Janeiro (2016). Atualmente trabalha em microscopia eletrônica de varredura, feixe de íons focalizados (FIB), microfabricação e microscopia óptica de campo próximo (SNOM) na Divisão de Metrologia de Materiais do INMETRO. (Texto informado pelo autor)


Identificação


Nome
Bruno Santos de Oliveira
Nome em citações bibliográficas
OLIVEIRA, B. S.;OLIVEIRA, BRUNO S.;Oliveira, B. S.;Oliveira, Bruno.;de Oliveira, B. S.;de OLIVEIRA, B. S.;DE OLIVEIRA, B. S.;Bruno Santos de Oliveira;BRUNO SANTOS DE OLIVEIRA;BRUNO SANTOS de OLIVEIRA;OLIVEIRA, BRUNO


Formação acadêmica/titulação


2018
Mestrado profissional em andamento em Metrologia e Qualidade.
Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.
Título: Desenvolvimento de metrologia em microscopia óptica de campo próximo, Ano de Obtenção: .
Orientador: Braulio Soares Archanjo.
2010 - 2016
Graduação em Nanotecnologia.
Universidade Federal do Rio de Janeiro, UFRJ, Brasil.
Orientador: Thiago L Vasconcelos.
Bolsista do(a): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico, CNPq, Brasil.
2006 - 2008
Ensino Médio (2º grau).
Alfa Colégio, ALFA, Brasil.




Formação Complementar


2014 - 2014
School of Advanced characterization of Nanomaterials. (Carga horária: 35h).
Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.
2013 - 2013
3ª Escola Avançada de Microscopia Eletrônica. (Carga horária: 16h).
Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.
2013 - 2013
4th School of Electron Microscopy at Inmetro. (Carga horária: 35h).
Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.
2012 - 2012
Boas Prát. de Lab. Voltado Para as Inst. da DIMAT. (Carga horária: 20h).
Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.


Atuação Profissional



Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia, INMETRO, Brasil.
Vínculo institucional

2011 - 2017
Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Bolsista, Carga horária: 20


Universidade Federal do Rio de Janeiro, UFRJ, Brasil.
Vínculo institucional

2014 - 2014
Vínculo: Voluntário, Enquadramento Funcional: Monitor, Carga horária: 10
Outras informações
O exercício profissional foi aplicada a área de Física Teórica II onde foram abordados os seguintes temas: gravitação, ondas e termodinâmica. A responsabilidade profissional da monitoria está focada no auxilio aos alunos de graduação da UFRJ após a realização de cada aula. A Monitoria foi exercida durante o período de graduação.

Vínculo institucional

2014 - 2014
Vínculo: Voluntário, Enquadramento Funcional: Monitor, Carga horária: 10
Outras informações
O exercício profissional foi aplicada a área de Física Experimental II, onde as responsabilidades profissionais da monitoria estão focadas na preparação dos experimentos de cada experimento e no auxilio aos alunos após a realização de cada experimento. A Monitoria exercida durante o período de graduação.



Áreas de atuação


1.
Grande área: Outros / Área: Divulgação Científica / Subárea: Nanotecnologia.


Idiomas


Português
Compreende Bem, Fala Bem, Lê Bem, Escreve Bem.
Espanhol
Compreende Razoavelmente, Fala Razoavelmente, Lê Razoavelmente, Escreve Razoavelmente.
Inglês
Compreende Razoavelmente, Fala Razoavelmente, Lê Razoavelmente, Escreve Razoavelmente.


Prêmios e títulos


2015
Bernhard Gross, XIV Brazil MRS Meeting.
2014
Menção Honrosa, XXXVI Jornada Giulio Massarani de Iniciação Científica, Tecnológica, Artística e Cultural.


Produções



Produção bibliográfica
Artigos completos publicados em periódicos

1.
VASCONCELOS, THIAGO L.2015VASCONCELOS, THIAGO L. ; ARCHANJO, BRÁULIO S. ; FRAGNEAUD, BENJAMIN ; OLIVEIRA, BRUNO S. ; RIIKONEN, JUHA ; LI, CHANGFENG ; RIBEIRO, DOUGLAS S. ; RABELO, CASSIANO ; RODRIGUES, WAGNER N. ; JORIO, ADO ; ACHETE, CARLOS A. ; CANÇADO, LUIZ GUSTAVO . Tuning Localized Surface Plasmon Resonance in Scanning Near-Field Optical Microscopy Probes. ACS Nano, v. 9, p. 6297-6304, 2015.

Artigos aceitos para publicação
1.
ARCHANJO, BRAULIO S. ; VASCONCELOS, THIAGO L. ; OLIVEIRA, BRUNO ; SONG, CHENG YU ; ALLEN, FRANCES I. ; ACHETE, CARLOS ALBERTO ; ERCIUS, PETER . Plasmon 3D Electron Tomography and Local Electric-field Enhancement of Engineered Plasmonic Nano-antennas. ACS Photonics, 2018.



Patentes e registros



Patente

A Confirmação do status de um pedido de patentes poderá ser solicitada à Diretoria de Patentes (DIRPA) por meio de uma Certidão de atos relativos aos processos
1.
 VASCONCELOS, THIAGO L. ; ARCHANJO, BRÁULIO S. ; FRAGNEAUD, BENJAMIN ; Oliveira, B. S. ; RIIKONEN, JUHA ; LI, CHANGFENG ; RIBEIRO, DOUGLAS S. ; RABELO, CASSIANO ; RODRIGUES, WAGNER N. ; JORIO, ADO ; ACHETE, CARLOS A. ; CANÇADO, LUIZ GUSTAVO . Dispositivo Metálico para Microscopia e Espectroscopia Óptica de Campo Próximo e Método de Fabricação do Mesmo. 2015, Brasil.
Patente: Privilégio de Inovação. Número do registro: BR102015010352, título: "Dispositivo Metálico para Microscopia e Espectroscopia Óptica de Campo Próximo e Método de Fabricação do Mesmo" , Instituição de registro: INPI - Instituto Nacional da Propriedade Industrial. Depósito: 08/04/2015

2.
 VASCONCELOS, THIAGO L. ; Oliveira, B. S. ; ACHETE, CARLOS A. ; ARCHANJO, BRÁULIO S. ; JORIO, ADO ; CANÇADO, LUIZ GUSTAVO ; RODRIGUES, WAGNER N. . Dispositivo Metálico para Microscopia por Varredura por Sonda e Método de Fabricação do Mesmo. 2015, Brasil.
Patente: Privilégio de Inovação. Número do registro: BR1020150312032, título: "Dispositivo Metálico para Microscopia por Varredura por Sonda e Método de Fabricação do Mesmo" , Instituição de registro: INPI - Instituto Nacional da Propriedade Industrial. Depósito: 14/12/2015

3.
 AMORIM, L. P. C. ; JORIO, ADO ; CANÇADO, LUIZ GUSTAVO ; VASCONCELOS, THIAGO L. ; MIRANDA, H. L. S. ; MELO NETO, J. M. ; SILVA, C. R. E. ; MENDES, L. T. S ; ARCHANJO, BRÁULIO S. ; ACHETE, CARLOS A. ; OLIVEIRA, B. S. ; ETRUSCO, L. F. . Método de posicionamento automático para montagem de sondas para varredura e espectroscopia óptica in situ e dispositivo. 2017, Brasil.
Patente: Privilégio de Inovação. Número do registro: BR1020170079171, título: "Método de posicionamento automático para montagem de sondas para varredura e espectroscopia óptica in situ e dispositivo" , Instituição de registro: INPI - Instituto Nacional da Propriedade Industrial. Depósito: 19/04/2017



Eventos



Participação em eventos, congressos, exposições e feiras
1.
Escola de Caracterização de Nanomateriais e Nanoestruturas. 2018. (Exposição).

2.
International Scanning Probe Microscopy Conference. Improving Fabrication Process of Template-Stripped Gold Pyramids for Near-Field Optical Microscopy. 2015. (Congresso).

3.
XIV Brazil MRS Meeting. Enhancing Manufacturing Process of Template-Stripped Gold Pyramids for Near-Field Optical Microscopy. 2015. (Congresso).

4.
XXXVI Jornada Giulio Massarani de Iniciação Científica, Tecnológica, Artística e Cultural.Fabricação de Pirâmides de ouro por Litografia de Feixe de ìon Focalizado (FIB) para uso como sonda de Microscopia de Campo Próximo (SNOM). 2014. (Outra).

5.
XXXVI Jornada Giulio Massarani de Iniciação Científica, Tecnológica, Artística e Cultural.Fabricação de Pirâmides de ouro por Litografia de Feixe de ìon Focalizado (FIB) para uso como sonda de Microscopia de Campo Próximo (SNOM). 2014. (Outra).




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