Ricardo Diogo Righetto

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  • Última atualização do currículo em 15/06/2015


Possui experiência nas áreas de processamento de imagens de microscopia eletrônica de varredura e de transmissão, com foco em análise de dados de crio-microscopia eletrônica. Atua também nas áreas de mineração de dados e aprendizado de máquina. Desde 2015, é aluno de doutorado no Biozentrum da Universidade de Basel, Suíça, onde atua na área de processamento de imagens e análise de dados de microscopia eletrônica orientadas a biologia estrutural. (Texto informado pelo autor)


Identificação


Nome
Ricardo Diogo Righetto
Nome em citações bibliográficas
RIGHETTO, R. D.;Righetto, R. D.;Righetto, Ricardo D.;RIGHETTO, RICARDO D;RIGHETTO, R.D.

Endereço


Endereço Profissional
Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computação.
Av. Albert Einstein
Cidade Univ. Zeferino Vaz
13083-970 - Campinas, SP - Brasil
URL da Homepage: http://www.dca.fee.unicamp.br/~righetto


Formação acadêmica/titulação


2015
Doutorado em andamento em Structural Biology.
Biozentrum der Universität Basel.
Orientador: Henning Stahlberg.
Bolsista do(a): Fellowships for Excellence International PhD Program.
2012 - 2014
Mestrado em Engenharia Elétrica.
Universidade Estadual de Campinas, UNICAMP, Brasil.
Título: Classificação de Diversidade Estrutural em Dados de Crio-ME através de Comitês de Agrupadores,Ano de Obtenção: 2014.
Orientador: Fernando José Von Zuben.
Coorientador: Rodrigo Villares Portugal.
Bolsista do(a): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico.
2006 - 2011
Graduação em Engenharia Elétrica.
Universidade Estadual de Campinas, UNICAMP, Brasil.
Título: Desenvolvimento de ferramentas para o mapeamento bidimensional de deformação a partir da análise de imagens.
Orientador: Antonio J. Ramirez.
Bolsista do(a): Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico.
2003 - 2006
Curso técnico/profissionalizante em Eletroeletrônica.
Colégio Técnico de Campinas.




Atuação Profissional



Center for Machine Perception, CTU Prague, CMP, República Tcheca.
Vínculo institucional

2012 - 2012
Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Estagiário
Outras informações
Worked on unsupervised learning methods for estimation of image parameters from noisy datasets. Supervisor: Dr. Boris Flach


Laboratório Nacional de Nanotecnologia, LNNANO, Brasil.
Vínculo institucional

2011 - 2011
Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Estagiário, Carga horária: 30
Outras informações
Estágio na área de processamento de imagens de microscopia eletrônica de varredura (SEM) e microscopia eletrônica de transmissão (TEM).


Universidade Estadual de Campinas, UNICAMP, Brasil.
Vínculo institucional

2011 - 2011
Vínculo: Bolsista PAD, Enquadramento Funcional: Auxiliar Didático, Carga horária: 8
Outras informações
Auxiliar didático da disciplina EA722 - Laboratório de Princípios de Controle e Servomecanismo.

Vínculo institucional

2011 - 2011
Vínculo: Bolsista PAD, Enquadramento Funcional: Auxiliar Didático, Carga horária: 8
Outras informações
Auxiliar didático da disciplina EA619 - Laboratório de Análise Linear.

Vínculo institucional

2007 - 2009
Vínculo: Bolsista FUNCAMP, Enquadramento Funcional: Bolsista, Carga horária: 40
Outras informações
Analista de suporte de informática na Agência de Inovação INOVA Unicamp.


Laboratório Nacional de Luz Síncrotron, LNLS, Brasil.
Vínculo institucional

2009 - 2010
Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Iniciação Científica, Carga horária: 12
Outras informações
Iniciação científica na área de processamento digital de imagens de microscopia eletrônica de varredura (SEM).


Motorola Industrial LTDA., MOTOROLA, Brasil.
Vínculo institucional

2005 - 2006
Vínculo: Estagiário Técnico, Enquadramento Funcional: Estagiário Técnico, Carga horária: 30
Outras informações
Estagiário de nível técnico da Engenharia de Testes na fábrica de telefones celulares de Jaguariúna-SP.


Colégio Técnico de Campinas, COTUCA, Brasil.
Vínculo institucional

2005 - 2005
Vínculo: Bolsista, Enquadramento Funcional: Monitor, Carga horária: 15
Outras informações
Monitor do curso técnico de Eletroeletrônica.



Áreas de atuação


1.
Grande área: Ciências Exatas e da Terra / Área: Ciência da Computação / Subárea: Metodologia e Técnicas da Computação/Especialidade: Processamento Gráfico (Graphics).
2.
Grande área: Engenharias / Área: Engenharia de Materiais e Metalúrgica / Subárea: Metalurgia Física/Especialidade: Propriedades Físicas dos Metais e Ligas.


Idiomas


Inglês
Compreende Bem, Fala Bem, Lê Bem, Escreve Bem.
Alemão
Compreende Razoavelmente, Fala Razoavelmente, Lê Razoavelmente, Escreve Razoavelmente.


Produções



Produção bibliográfica
Artigos completos publicados em periódicos

1.
3TORRES, E.A.2014 TORRES, E.A. ; MONTORO, F. ; RIGHETTO, R.D. ; RAMIREZ, A.J. . Development of high-temperature strain instrumentation for in situ SEM evaluation of ductility dip cracking. Journal of Microscopy (Print), v. n/a, p. n/a-n/a, 2014.

2.
1STROPPA, DANIEL G2013 STROPPA, DANIEL G ; RIGHETTO, RICARDO D ; MONTORO, LUCIANO A ; HOUBEN, LOTHAR ; BARTHEL, JURI ; CORDEIRO, MARCO AL ; LEITE, EDSON R ; WENG, WEIHAO ; KIELY, CHRISTOPHER J ; RAMIREZ, ANTONIO J . Assessment of a nanocrystal 3-D morphology by the analysis of single HAADF-HRSTEM images. Nanoscale Research Letters (Online), v. 8, p. 475, 2013.

3.
2STROPPA, D. G.2011 RIGHETTO, R. D.; STROPPA, D. G. ; MONTORO, L. A. ; RAMIREZ, A. J. . MEGACELL: A nanocrystal model construction software for HRTEM multislice simulation. Ultramicroscopy (Amsterdam), v. 111, p. 1077-1082, 2011.

Resumos expandidos publicados em anais de congressos
1.
RIGHETTO, R. D.; PORTUGAL, R. V. ; ZUBEN, F. J. V. . Classificação de Diversidade Estrutural em Dados de Microscopia Eletrônica de Transmissão através de Comitês de Máquinas. In: VI Encontro de Alunos e Docentes do DCA, 2013, Campinas. Anais do VI Encontro de Alunos e Docentes do DCA, 2013.

Resumos publicados em anais de congressos
1.
RIGHETTO, R. D.; ZUBEN, F. J. V. ; PORTUGAL, R. V. . Validation of Structural Diversity on Cryo-Electron Microscopy Datasets by Clustering Algorithms. In: 43a. Reunião Anual da SBBq, 2014, Foz do Iguaçu. 43a. Reunião Anual da SBBq, 2014.

2.
BELATINI JR., L. R. ; RIGHETTO, R. D. ; MONTEIRO, M. F. G. ; SILVA, C. A. ; ZUBEN, F. J. V. ; VAN HEEL, M. ; PORTUGAL, R. V. . A hyperspace viewer: visualization and classification of large image datasets. In: Gordon Research Conference on Three-Dimensional Electron Microscopy (3DEM), 2013, New London. Gordon Research Conference on Three-Dimensional Electron Microscopy (3DEM), 2013.

3.
STROPPA, D. G. ; RIGHETTO, R. D. ; MONTORO, L. A. ; LEITE, E. R. ; RAMIREZ, A. J. . Reconstruction of Nanocrystals 3D Morphology by HAADF-HRSTEM. In: X Encontro da SBPMat, 2011, Gramado. X Encontro da SBPMat, 2011.

4.
RAMIREZ, A. J. ; STROPPA, D. G. ; MONTORO, L. A. ; ISAAC, A. C. ; RIGHETTO, R. D. ; LEITE, E. R. . Non-conventional electron tomography of nanostructures. In: X Encontro da SBPMat, 2011, Gramado. X Encontro da SBPMat, 2011.

5.
RIGHETTO, R. D.; TORRES, E. A. ; RAMIREZ, A. J. . An integrated image processing tool for strain mapping of thermomechanical SEM in situ experimentation. In: 22a. Reunião Anual de Usuários do LNLS, 2011, Campinas. 22a. Reunião Anual de Usuários do LNLS, 2011.

6.
RIGHETTO, R. D.; CALSAVARA, P. G. R. ; TORRES, E. A. ; RAMIREZ, A. J. . Integrated image processing techniques applied to strain mapping at in situ SEM experiments. In: 21st. International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis, 2011, Campinas. 21st. International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis, 2011.

7.
RIGHETTO, R. D.; CALSAVARA, P. G. R. ; TORRES, E. A. ; RAMIREZ, A. J. . Strain mapping of engineering materials at in situ SEM experiments by an integrated image processing tool. In: X Encontro da SBPMat, 2011, Gramado. X Encontro da SBPMat, 2011.

8.
STROPPA, D. G. ; MONTORO, L. A. ; RIGHETTO, R. D. ; RAMIREZ, A. J. . MEGACELL:A nanocrystal models construction software for HRTEM multislice simulation. In: 17th International Microscopy Congress, 2010, Rio de Janeiro. Proceedings of the 17th International Microscopy Congress, 2010.

9.
RIGHETTO, R. D.; TORRES, E. A. ; RAMIREZ, A. J. . Strain Mapping for in-situ SEM Experimentation. In: 17th International Microscopy Congress, 2010, Rio de Janeiro. Proceedings of the 17th International Microscopy Congress, 2010.


Produção técnica
Programas de computador sem registro
1.
STROPPA, D. G. ; RIGHETTO, R. D. ; MONTORO, L. A. ; RAMIREZ, A. J. . MEGACELL. 2011.



Eventos



Participação em eventos, congressos, exposições e feiras
1.
EMBO practical course on image processing for cryo-EM.Classification of Structural Diversity on Cryo-EM Datasets by Cluster Ensembles. 2013. (Oficina).

2.
5th Brazil School for Single-Particle Cryo-EM.Validation of EM Image Clustering. 2012. (Oficina).

3.
III Curso de Bioinformática: Algoritmos e técnicas computacionais para montagem e análise de genomas - LGE/IB-Unicamp. 2011. (Outra).

4.
Curso Básico de Capacitação em Propriedade Intelectual, INPI/Inova Unicamp. 2007. (Outra).




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